CMM CONTURA高性能蔡司三坐標(biāo)測量機(jī)廣泛適用于各類型工件的測量，其獨(dú)到的蔡司固定臺面 CARAT 材質(zhì)橋式結(jié)構(gòu)，高穩(wěn)定低運(yùn)動重心設(shè)計(jì)，高精度掃描測頭系統(tǒng)及眾多技術(shù)優(yōu)勢，確保了系統(tǒng)的精度及動態(tài)性能，高剛性結(jié)構(gòu)提高了系統(tǒng)對于環(huán)境的抗干擾性能及長久的穩(wěn)定性。

更新時(shí)間：2025-07-04

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三坐標(biāo)及自動化檢測線

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產(chǎn)品介紹

一、產(chǎn)品基本介紹

1、設(shè)備名稱：蔡司三坐標(biāo)測量機(jī)

2、設(shè)備型號：CMMCONTURA7/10/6RDS

3、設(shè)備品牌及產(chǎn)地：卡爾蔡司/德國

二、測量機(jī)技術(shù)規(guī)格

蔡司三坐標(biāo)測量機(jī)廣泛適用于各類型工件的測量，其獨(dú)到的蔡司固定臺面CARAT材質(zhì)橋式結(jié)構(gòu)，高穩(wěn)定低運(yùn)動重心設(shè)計(jì)，高精度掃描測頭系統(tǒng)及眾多技術(shù)優(yōu)勢，確保了系統(tǒng)的良好精度及動態(tài)性能，高剛性結(jié)構(gòu)提高了系統(tǒng)對于環(huán)境的抗干擾性能及長久的穩(wěn)定性。

機(jī)型	CMM CONTURA 7106 RDS
測量機(jī)設(shè)計(jì)	高性能固定臺面橋式機(jī)體設(shè)計(jì)
測量范圍(mm)	X=700 Y= 1000 Z= 600
工件尺寸（mm）	寬 B17= 827 長 B16= 1350 高 B18= 600
機(jī)器外形尺寸（mm）	寬 B6= 1381 長 B5= 1913 高 B7= 2658
整機(jī)重量（kg）	1570
工件重量 (kg)	730
掃描速度	125
空間運(yùn)動速度	475
空間運(yùn)動加速度	1850
長度測量誤差MPE-E0/E150(ISO10360-2:2009)(μm)	1.5 + L/ 350
E0 重復(fù)性范圍MPL-R0(ISO10360-2:2009)(μm)	1.5
單探針形狀探測精度 MPE-PFTU(ISO 10360-5:2010)(μm)	1.5
形狀測量誤差 MPE-RONt(MZCI)ISO 12181)(μm)	1.5
掃描誤差 THP(μm)/檢測時(shí)間 MPT(s)（ISO 10360-4：2000）	2.7 / 50
保證以上精度的溫度范圍及梯度,濕度要求	18 - 22°C, 1.5 K/d, 1 K/h, 1 K/m, 30-60 %
電源	1/N/PE 125/230/240 VAC~(±10%);50-60Hz(±3.5%),功耗:800VA,典型功耗:200W
壓縮空氣供氣壓力	最小6bar,8bar,預(yù)清潔.耗氣量約:50Nl/min.壓縮空氣質(zhì)量遵循 ISO 8573 part 1:class 4
認(rèn)證	2006/42/EC，EMC directive 2004/108/EC.
認(rèn)證	ISO 9001:2008;VDA 6,Parts 4,2,ISO 14001:2004,BS OHSAS 18001:2007,ISO/IEC 17025:2005

三、系統(tǒng)技術(shù)特色

技術(shù)特色：高科技機(jī)體材料設(shè)計(jì)

ZEISSCMMCONTURA采用高精度橋式測量機(jī)的主要結(jié)構(gòu)形式，具有更佳的測量空間開敞性。低重心設(shè)計(jì)確保運(yùn)動過程的穩(wěn)定性，精益求精的氣浮軸承間隙確保驅(qū)動配合的可靠性，高質(zhì)量減震系統(tǒng)受地基影響相對較小，保證機(jī)器具有長期的精度穩(wěn)定性。

CONTURA具有佳的機(jī)械精度，集團(tuán)秉承了一百七十多年精耕細(xì)作的傳統(tǒng)，實(shí)行業(yè)界嚴(yán)格的品質(zhì)管控ZEISSQC要求。同時(shí)，蔡司將材料科技運(yùn)用：測量系統(tǒng)導(dǎo)軌（橫梁和Z軸）配備高科技DLC鉆石涂層材料。DLC鉆石涂層材料各項(xiàng)物理材料性能均表現(xiàn)，DLC涂層材料彈性模量略低于金剛石（1100GPa），但明顯高于一般金屬的彈性模量可達(dá)170-300Gpa，DLC鉆石涂層材料具有優(yōu)異的耐磨性，摩擦系數(shù)低至0.1，是一種優(yōu)異的表面抗磨損新型材料。

VASTXXT低測力掃描探頭特點(diǎn)：

可以單點(diǎn)探測；

可以掃描探測；

手動探測時(shí)不受操作人員影響；

可以根據(jù)名義值掃描；

可以掃描未知曲線；

可以自定心打點(diǎn)；

測量力可調(diào)（不需重新校準(zhǔn)探針）；

探測加速度可調(diào)；

標(biāo)準(zhǔn)既能在豎向也可同時(shí)在橫向連接探針；

GDT測量(尺寸,形狀和位置)可測量多種角度位置；

測量力小:低測力使探針接觸工件時(shí)變形更小；

最小探針直徑0.3mm；

精確–可測量尺寸,形狀,位置；

探測力可通過軟件調(diào)節(jié)(VAXTXXT:0.01-0.13N)；

掃描速度快(150點(diǎn)/秒)；

三個(gè)探頭模塊，可使用長的探針(30-125,125-250,30-150mm),可側(cè)面連接或星形探針（側(cè)邊探針最長65mm)；

校準(zhǔn)可修正探針彎曲。

上一個(gè)：JX13V雙顯示工具顯微鏡